同軸光源使用高密度的LED陣列發(fā)射出高強度均勻光,通過一種帶特殊涂層的半透鏡面使工件上的反射光和CCD相機在同一個軸線上,并可消除采集圖像的審像。該系列光源具有非常均勻的光分布,適合經過光滑的工件表面進行劃痕檢測。
應用范圍:
檢測晶片上激光標注
檢測金屬表面、軸承、飲料罐上刻印字符
檢測金屬、玻璃板上印刷的二維碼
液晶屏缺陷
型號 | 電壓/功率 | 產品尺寸 |
外型圖下載 | ||||||
| 電壓 | 紅色 | 白色 | 藍色 | 綠色 | 外徑MM | 開孔MM | 高度MM | ||
| QN-C30 | 24V | 1.2 | 1.8 | 1.8 | / | 67 | 40 | 40 | |
| QN-C40 | 24V | 2 | 3 | 3 | / | 80 | 50 | 47 | |
| QN-C60 | 24V | 2.9 | 5.8 | 5.8 | / | 90 | 70 | 70 | |
| QN-C80 | 24V | 6.5 | 10 | 10 | / | 114 | 91 | 86.5 | |
| QN-C100 | 24V | 9.1 | 14 | 14 | / | 134 | 112 | 107 | |
| QN-C120 | 24V | 11.7 | 18 | 18 | / | 174 | 131 | 130 | |